(20) 24 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

 PDF, 244 kB

Страницы: 106-110.

Язык статьи: Русский.

Аннотация:
Рассмотрен способ и испытательное оборудование для обнаружения поверхностных дефектов в виде царапин, трещин, изменения состояния поверхности детали в результате химического воздействия и абразивного износа с использованием лазерных систем. Построена математическая модель вероятности распознавания дефектов по достижению энергетического соответствия зондирующего сигнала геометрическим параметрам исследуемого участка поверхности. Проведена экспериментальная оценка влияния глубины, угла раскрытия и расположения плоскости симметрии трещины на изменение распределения интенсивности излучения в световом пятне при его поверхностном отражении. Показаны преимущества применения в малогабаритных контрольно-измерительных системах лазерных диодов с квантоворазмерными структурами на основе материалов четверных систем.

Citation:
Sazonnikova NA, Mordasov VI, Shuvaev AA. An optical method for assessing surface damage. Computer Optics 2000; 20: 106 - 110.

Литература:

1. Обнаружение поверхностных трещин оптическим сканированием // Испытательные приборы и стенды: Экспресс-информация.- 1988, N 14(59), с.1-8.
2. Кукса Н.Н. Влияние площади считывающей апертуры фотоэлектрического дефектоскопа на вероятность пропуска дефекта // Дефектоскопия. - 1984. - N 4.- с.57-64.
3. Басов Н.Г., Елисеев П.Г., Попов Ю.М. Достижения и проблемы физики инжекционных лазеров//Нелинейная оптика полупроводниковых лазеров. - М.: Наука, 1986, Тр. ФИАН; Т.166, с.3- 14.
4. Кейси Х., Паниш М. Лазеры на гетероструктурах. Т.1. М.: Мир, 1981.- 299 с.
5. Кейси Х., Паниш М. Лазеры на гетероструктурах. Т.2. М.: Мир, 1981.- 364 с.

---

© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20