(25) 13 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

 PDF, 461 kB

Страницы: 71-73.

Язык статьи: Русский.

Аннотация:
В данной работе описывается метод измерения шероховатости поверхности. Поскольку задача прямого измерения шероховатости поверхности является трудновыполнимой при малой амплитуде шероховатости, проводятся косвенные измерения шероховатости за счет измерения плотности дислокаций на спекл-интерферограмме. Используется связь между плотностью дислокаций и амплитудой шероховатости исследуемой поверхности. Для поиска дислокаций используется поле направлений спекл-интерферограммы.

Keywords:
direction field, surface roughness, speckle interferogram, dislocation density

Citation:
Nalimov AG, Kotlyar VV, Skidanov RV. Surface roughness evaluation using a direction field. Computer Optics 2003; 25: 71-730.

Литература:

1. Левин Б.Я. Распределение корней целых функций // М.: ГИТТЛ, 1956. 243с.
2. Баранова Н.Б., Зельдович Б.Я. Дислокации поверхностей волнового фронта и нули амплитуды // ЖЭТФ, 1981. Т. 80. Вып. 5. С. 1789-1797.
3. Скиданов Р.В., Налимов А.Г. Метод поиска особых точек дактилоскопических изображений с использованием поля направлений // Компьютерная оптика, 2002. Вып. 23. С. 69-74.
4. Soifer V.A., Kotlyar V.V., Khonina S.N., Khramov A.G., Skidanov R.V. Image recognition using a direction field technique // Proceedings of SPIE: Digital image processing and computer graphics (DIP'97), 1998. V.3346.
5. Котляр В.В. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук // СФ ФИАН, Самара, 1988.

---

© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20