Анализ текстур и определение типа кристаллической решётки на наномасштабных изображениях
Куприянов А.В.

Аннотация:
Современные приборы регистрации изображений микро- и наноструктур и методы компьютерной обработки изображений позволяют решать различные задачи анализа текстуры поверхности. Особенности обработки и анализа наномасштабных изображений, получаемых в электронной микроскопии высокого разрешения, показаны на примере решения задачи определения типа кристаллических решёток.

Abstract:
The high end equipment intended for image acquisition of the micro- and nanostructures and various methods of the image processing allows one to solve the problems of surface texture analysis. The specifics of processing and analysis of the nanoscale images obtained via high resolution electronic microscopy are presented as an example solution of the task of crystal lattice type identification.

Ключевые слова :
наномасштабные изображения, текстура, кристаллическая решётка.

Key words:
nanoscale images, texture, crystal lattice.

Литература:

  1. Геологический словарь: в 2-х томах / под ред. К.Н. Паффенгольца [и др.]. – М.: Недра, 1978.
  2. Толковый словарь иностранных слов / под ред. Л.П. Крысина.– М.: Русский язык, 1998.
  3. Уманский, Я.С. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия / Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. – М.: Металлургия, 1982. – 632 с.
  4. Haralick, R.M. Statistical and structural approaches to textures / R.M. Haralick // Proc. IEEE. – 1979. – Vol. 67. – P. 786-804.
  5. D’Astous, F. Texture discrimination based on detailed measures of the power spectrum / F. D’Astous and M.E. Jernigan // Proc. Of 7th International Conference on Pattern Recognition, Montreal, July 1984. – P. 83-86.
  6. Chen, P.C. Segmentation by Texture Using Correlation / P.C. Chen, T. Pavlidis // PAMI (5). – 1983. – N 1. – P. 64-69.
  7. Singh, M. Spatial texture analysis: a comparative study / M. Singh, S. Singh // Int. Conf. Pattern Recognition, 2002. – Vol. 1. – P. 676-679.
  8. Haralick, R.M. Textural features for image classification / R.M. Haralick, K. Shanmugam, I. Dinstein // IEEE Trans. on Systems, Man and Cybernetics.– 1973. – V. 3. – P. 610-621.
  9. Ильясова, Н.Ю. Классификация кристаллограмм с использованием методов статистического анализа текстурных изображений / Н.Ю. Ильясова, А.В. Куприянов, А.Г. Храмов // Компьютерная оптика. – 2000. – № 20. – С. 122-127.
  10. Kupriyanov, A.V. Statistical Features of Image Texture for Crystallogram Classification / A.V. Kupriyanov, A.G. Khramov, N.Yu. Ilyasova // Pattern Recognition and Image Analysis. – 2001. – Vol. 11, N 1. – P. 180-183.
  11. Laws, K.I. Rapid Texture Identification / K.I. Laws // SPIE. – 1980. – Vol. 238. – P. 376-380.
  12. Куприянов, А.В. Сегментация текстурных изображений на основе оценивания локальных статистических признаков / А.В. Куприянов // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета им. академика С.П. Королёва. – 2008. – № 2. – C. 245-251.
  13. Сойфер, В.А. Анализ и распознавание наномасштабных изображений: Традиционные подходы и новые постановки задач / В.А. Сойфер, А.В. Куприянов // Компьютерная оптика. – 2011. – Т. 35, № 2. – C. 136-144.
  14. Егоров-Тисменко, Ю.К. Кристаллография и кристаллохимия / Ю.К. Егоров-Тисменко. – М.: КДУ, 2005. – 592 с.
  15. Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. – М.: Техносфера, 204. – 384 с.
  16. Хайкин, С. Нейронные сети: полный курс / С. Хайкин. – М.: Вильямс, 2006. – 1104 с.
  17. Конспект лекций по дисциплине «Кристаллография, минералогия» /Кафедра геологии, минералогии и петрографии Сибирского федерального университета // Красноярск, 2007. – 355 с. [http://btn.sfu-kras.ru/ebibl/ umkd/81/u_lectures.pdf]
  18. Veblen, D.R. TEM study of a pyroxene-to-pyroxenoid reaction / David R. Veblen // American Mineralogist. – 1985. – Vol. 70. – P. 885-901.

References:

  1. Geological dictionary in 2 volumes / edited by К.N. Puffengoldz [et al.]. – Moscow: “Nedra” Publisher, 1978. – (in Russian).
  2. Glossary of foreign words / edited by L.P. Krysin. – Moscow: “Russkiy Yazyk” Publisher, 1998. – (in Russian).
  3. Umansky, Ya.C. Krisltallographiya, rentgenographiya I electronnaya microskopiya / Ya.C. Umanskiy [et al.] // Moscow: “Metallurgiya” Publisher, 1982. – 632 p. – (in Russian).
  4. Haralick, R.M. Statistical and structural approaches to textures / R.M. Haralick // Proc. IEEE . – 1979.– Vol. 67. – P. 786-804.
  5. D’Astous, F. Texture discrimination based on detailed measures of the power spectrum / F. D’Astous and M.E. Jernigan // Proc. Of 7th International Conference on Pattern Recognition, Montreal, July 1984. – P. 83-86.
  6. Chen, P.C. Segmentation by Texture Using Correlation / P.C. Chen, T. Pavlidis // PAMI (5). – 1983. – N 1. – P. 64-69.
  7. Singh, M. Spatial texture analysis: a comparative study / M. Singh, S. Singh // Int. Conf. Pattern Recognition. – 2002. – Vol. 1. – P. 676-679.
  8. Haralick, R.M. Textural features for image classification / R.M. Haralick, K. Shanmugam, I. Dinstein // IEEE Trans. on Systems, Man and Cybernetics.– 1973. – V. 3. – P. 610-621.
  9. Ilyasova, N.Yu. Crystallogramm classification with statistical analysis of textural images / N.Yu. Ilyasova, A.V. Ku­priyanov, A.G. Khramov // Computer Optics. – 2000. – N 20. – P. 122-127. – (in Russian).
  10. Kupriyanov, A.V. Statistical Features of Image Texture for Crystallogram Classification / A.V. Kupriyanov, A.G. Khramov, N.Yu. Ilyasova // Pattern Recognition and Image Analysis. – 2001. – Vol. 11, N 1. – P. 180-183.
  11. Laws, K.I. Rapid Texture Identification / K.I. Laws // SPIE. – 1980. – Vol. 238. – P. 376-380.
  12. Kupriyanov, A.V. Segmentation of the textural images based on the estimation of local statistical features / A.V. Kupriyanov // Vestnik of the Samara state aerospace university. – 2008. – N 2. – P. 245-251. – (in Russian).
  13. Soifer, V.A. Analysis and recognition of the nanoscale images: conventional approach and novel problem statement / V.A. Soifer, A.V. Kupriyanov // Computer Optics. – 2011. – V. 35, N 2. – P. 136-144. – (in Russian).
  14. Egorov-Tismenko, Yu.K. Kristallographiya i kristallokhimiya / Yu.K. Egorov-Ticmenko. – Moscow: “KDU” Publisher, 2005. – 592 p. – (in Russian).
  15. Brandon, D. Microstructural Characterization of Materials / D. Branon, W. Kaplan. – Moscow: “Technosfera” Publisher, 2004. – 384 p. – (in Russian).
  16. Khaykin, S. Neural networks: complete course / S. Khay­kin // Moscow: “Williams” Publisher, 2006. – 1104 p. – (in Russian)
  17. Lecture course “Kristallographiya i mineralogiya” / Department of the geology, mineralogy and petrography of Siberian federal university // Krasnoyarsk, 2007. – 355 p. [http://btn.sfu-kras.ru/ebibl/umkd/81/u_lectures.pdf]. – (in Russian).
  18. Veblen, D.R. TEM study of a pyroxene-to-pyroxenoid reaction / David R. Veblen // American Mineralogist. – 1985. – Vol. 70. – P. 885-901.
© 2009, ИСОИ РАН
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: ko@smr.ru ; тел: +7 (846) 332-56-22, факс: +7 (846) 332-56-20