(38-4) 30 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

О коррекции эффекта перекрытия дифракционных порядков  в спектрометре на основе схемы Оффнера
Досколович Л.Л., Безус Е.А., Быков Д.А.

Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва
(национальный исследовательский университет) (СГАУ),

Институт систем обработки изображений РАН

PDF, 256 kB

DOI: 10.18287/0134-2452-2014-38-4-777-781

Страницы: 777-781.

Аннотация:
Проведён анализ работы спектрометра в конфигурации Оффнера с дифракционной решёткой в качестве диспергирующего элемента. В параксиальном приближении получены формулы для положения спектров на регистрирующем устройстве, формируемых в различных дифракционных порядках. Предложен метод коррекции негативного эффекта наложения спектров за счёт обработки зарегистрированного изображения.

Ключевые слова :
спектрометр, изображающий спектрометр, гиперспектрометр, схема Оффнера, дифракционная решётка.

Цитирование:
Досколович, Л.Л. О коррекции эффекта перекрытия дифракционных порядков в спектрометре на основе схемы Оффнера / Л.Л. Досколович, Е.А. Безус, Д.А. Быков // Компьютерная оптика. – 2014. – Т. 38, № 4. – С. 777-781. – DOI: 10.18287/0134-2452-2014-38-4-777-781.

Citation:
Doskolovich LL, Bezus EA, Bykov DA. On the compensation of the diffraction orders overlap effect in the offner spectrometer. Computer Optics 2014; 38(4): 777-781. DOI: 10.18287/0134-2452-2014-38-4-777-781.

Литература:

  1. Mouroulis, P. Optical design of a compact imaging spectrometer for planetary mineralogy / P. Mouroulis, R.G. Sellar, D.W. Wilson, J.J. Shea, R.O. Green // Optical Engineering. – 2007. – Vol. 46(6) – P. 063001.
  2. Mouroulis, P. Convex grating types for concentric imaging spectrometers / P. Mouroulis, D.W. Wilson, P.D. Maker, R.E. Muller // Applied Optics. – 1998. – Vol. 37(31), – P. 7200-7208.
  3. Prieto-Blanco, X. Analytical design of an Offner imaging spectrometer / X. Prieto-Blanco, C. Montero-Orille, B. Cou­ce, R. de la Fuente // Optics Express. – 2006. – Vol. 14(20). – P. 9156-9168.
  4. Prieto-Blanco, X. The Offner imaging spectrometer in quadrature / X. Prieto-Blanco, C. Montero-Orille, H. González-Nuñez, M.D. Mouriz, E.L. Lago, and R. de la Fuente // Optics Express. – 2010. – Vol. 18(12). – P. 12756-12769.
  5. Lee, J.H. Optical Design of a Compact Imaging Spectrometer for STSAT3 / J.H. Lee, T.S. Jang, H.-S. Yang, S.-W. Rhee // Journal of the Optical Society of Korea. – 2008. – Vol. 12(4). – P. 262-268.
  6. Lee, J.H. Optomechanical Design of a Compact Imaging Spectrometer for a Microsatellite STSAT3 / J.H. Lee, C.W. Lee, Y.M. Kim, J.W. Kim // Journal of the Optical Society of Korea. – 2009. – Vol. 13(2). – P. 193-200.
  7. Казанский, Н.Л. Моделирование работы гиперспектрометра, основанного на схеме Оффнера, в рамках геометрической оптики / Н.Л. Казанский, С.И. Харито­нов, А.В. Карсаков, С.Н. Хонина // Компьютерная оптика. – 2014. – Т. 38, № 2. – С. 271-280.
  8. Soifer, V. Iterative Methods for Diffractive Optical Elements Computation / V. Soifer, V. Kotlyar, L. Doskolovich. – London: Taylor & Francis Ltd., 1997. – 244 p.
  9. Zemax – Программное обеспечение для разработки оптики и систем освещения [Электронный ресурс]. – 2014. – URL: https://www.zemax.com/ (дата обращения 27.11.2014).
© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20