Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов
Колючкин В.В., Злоказов Е.Ю., Одиноков С.Б., Талалаев В.Е., Цыганов И.К.

Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, Москва, Россия,
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва, Россия

Аннотация:
Защитные голограммы применяются в качестве элементов, подтверждающих подлинность документов и различной продукции. Качество защитных голограмм в значительной степени зависит от глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов. Авторами статьи предлагается метод контроля качества защитных голограмм, основанный на непрямых измерениях параметров микрорельефа. В статье представлены результаты теоретических исследований предложенного метода.

Ключевые слова :
голография, дифракционные решётки, теория дифракции, голографические оптические элементы, дифракционные оптические элементы.

Цитирование:
Колючкин, В.В. Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов / В.В. Колючкин, Е.Ю. Злоказов, С.Б. Одиноков, В.Е. Талалаев, И.К. Цыганов // Компьютерная оптика. – 2015. – Т. 39, № 4. – С. 515-520. – DOI: 10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520.

Литература:

  1. Kolyuchkin, V.V. Correlation method for quality control of master matrix used for embossing security holograms / V.V. Kolyuchkin, A.Yu. Zherdev, E.Yu. Zlokazov, D.S. Lush­nikov, S.B. Odinokov, A.V. Smirnov // Holography: Advances and Modern Trends III, Proceedings of SPIE. – 2013. – Vol. 8776 – P. 87760A.
  2. Бессемельцев, В.П. Контроль качества отражающих голограмм методами конфокальной микроскопии / В.П. Бессемельцев // XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. – 2014. – С. 50-53.
  3. Беляцкий, М.А. Устройство и алгоритм проверки подлинности защитных голограмм / М.А. Беляцкий, Ю.Д. Ка­рякин, Р.В. Телятников, М.Л. Чиканова, И.П. Шумский // XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. – 2014. – С. 64-67.
  4. Хорохоров, А.М. Исследование влияния параметров фазовых дифракционных решёток на распределение интенсивности дифрагированного света при формировании цветокодированных изображений / А.М. Хорохо­ров, А.М. Клищук, И.К. Цыганов, С.Б. Одиноков, А.Ф. Ши­ранков // Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Приборостроение. – 2005. – № 4. – С. 13-26.
  5. Борн, М. Основы оптики / М. Борн, Э. Вольф; под ред. Г.П. Мотулевич. – Изд. 2-е. – М.: Наука, 1973. – С. 341-362.
© 2009, IPSI RAS
Institution of Russian Academy of Sciences, Image Processing Systems Institute of RAS, Russia, 443001, Samara, Molodogvardeyskaya Street 151; E-mail: ko@smr.ru; Phones: +7 (846) 332-56-22, Fax: +7 (846) 332-56-20