(14-15(1)) 14 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

О свойствах эмпирической решеточной фрактальной размерности изображений
Н.С. Поликарпова

 PDF, 2014 kB

Страницы: 156-165

Язык статьи: Русский.

Аннотация:
Работа посвящена признакам полутоновых изображений, основанным на понятии фрактальной размерности. Предстаюен алгоритм вычисления эмпирической решеточной фрактальной размерности (ЭРФР) произвольного полутонового изображения. Приведены результаты теоретических исследований свойств пирамидальных фрактальных представлений изображений и ЭРФР, и проведено сравнение свойств ЭРФР со свойствами теоретической фрактальной размерности. Описаны два класса полутоновых изображений с различными фрактальными свойствами. Приведены результаты использования ЭРФР в описаниях изображений дактилоскопических отпечатков пальцев в задаче их идентификации .

Citation:
Polikarpova NS. On the properties of the empirical lattice fractal dimension of images. Computer Optics 1995; 14-15(1): 156-165.

Литература:

  1. Barnsley М. Fractals Everywhere, Academic Press Inc., San Diego, 1988.
  2. Chen S.S., Keller JM.M., Crownover R.M. On the Calculation of Fractal Features from Images, IEEE Trans. Patt. Anal. Machine Intell., V.15, N 10, pp.1087 - 1090, October 1993.
  3. Huang Q., Lorch JM.R., Dubes R.C. Can the Fractal Dimension of Images be Measured?, Pattern Recognition, Vol. 27, N 3, pp. 339-349, 1994.
  4. Keller JM.M., S.Chen, Crownover R.M. Texture Description trough Fractal Geometry, Comput. Vision Graphics Image Processing, V 45, pp.150 - 166, 1989.
  5. Liebovitch L.S., Toth Т. A Fast Algorithm to Determine Fractal Dimension by Box Counting, Phys. Lett., A 141, pp. 386-390, 1989.
  6. Polikarpova N.S. On the Use of the Features Based on the Calculation of the Fractal Dimension in the Analysis and Recognition of Fingerprints, Pattern Recognition and Image Analysis: Advances in Math. Theory and Applications, V.3 N 3, pp.366-373, September 1993.
  7. Voss R. Random Fractals: Characterization and Measurment, in Scaling Phenomena in Disordered Systems (R. Pynn and A. Skjelyorp, Eds.) Plenum, New York, 1986 .

© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20