(16) 08 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски
ГРАДИЕНТНЫЙ МЕТОД РАСЧЕТА
МНОГОПОРЯДКОВЫХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК В ПРИБЛИЖЕНИИ РЭЛЕЯ
Досколович Л.Л., Петрова О.И., Сойфер В.А., Харитонов С.И.
PDF, 407 kB
Страницы: 31-35
Язык статьи: Русский.
Аннотация:
В данной работе предлагается градиентный
метод расчета профиля рельефа многопорядковой
идеально отражающей ДР в приближении Рэлея.
Метод обобщает известные градиентные алгоритмы расчета ДР в приближении Кирхгофа.
Citation:
Doskolovich LL, Petrova OI, Soifer VA, Kharitonov SI. Gradient method for the design
of multiorder diffraction gratings using the Rayleigh method. Computer Optics 1996; 16: 31-
35.
Литература:
- Vassara A., Taghizaden M.R., Turunen J et all.
Binary surface-relief gratings for array illumination in
digital optics.// Appl. Opt., 1992, v.31, N 7, pp.3320-
3336.
- Morrison R.L., Walker S.L., Cloonan T.J.
Beam array generation and holographic interconnections
in a free-space optical network.// Appl. Opt., 1993,
v.32, pp.2512-2518.
- Mait J.N. Design of binary phase and multiphase
Fourier gratings for array generation.// JOSA A,
1990, v.7, N 8, pp.1514-1528.
- Electromagnetic Theory of Gratings: Topics in
current physics, v.22, Ed. by R.Petit, N.Y.: Springer-
Verlag, 1980.
- Gerchberg R.W., Saxton W.O. A practical
algorithm for the determination of the phase from im35
age and diffraction plane pictures.// Optik, 1972, v.35,
N 2, pp.237-246.
- J.R.Fienup Phase retrieval algorithms: a comparison.//
Appl. Opt., 1982, v.21, N 15, pp.2758-2769.
- Doskolovich L.L., Soifer V.A., Alessandretti
G., Perlo P., Repetto P. Analytical initial approximation
for multiorder binary gratings design.//
Pure&Appl.Opt., 1994, v.3, pp.921-930.
- Iterative methods for diffraction optical elements
computation. V.Soifer, V.Kotlyar, L.Doskolovich,
Tailor&Francis LTD, 1996 (accepted for publication).
© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20