(24) 16 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски
Страницы: 81-83.
Язык статьи: Русский.
Аннотация:
Работа посвящена анализу систематических технологических погрешностей, возникающих при изготовлении алмазных ДОЭ с помощью прямой лазерной абляции. Целью
предлагаемой статьи является численный анализ (в рамках электромагнитной теории дифракционных решеток) влияния погрешностей формируемого рельефа на стыках элементарных областей структурирования. В работе делаются заключения о характере влияния
технологических погрешностей на работу ДОЭ и сформированы рекомендации по минимизации потерь энергии, связанных с наличием погрешностей.
Keywords:
diamond DOE, local technological error, laser ablation, diffraction grating,
electromagnetic theory
Citation:
Pavelyev VS, Golovashkin DL, Kononenko VV, Pimenov SM. Selecting
microrelief parameters of a diamond DOE based on the numerical analysis of local
technological errors. Computer Optics 2002; 24: 81-83.
Литература:
© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20