(21) 27 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОХОЖДЕНИЯ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ ЧЕРЕЗ АЛМАЗНУЮ ДИФРАКЦИОННУЮ ЛИНЗУ С СУБВОЛНОВЫМИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПОГРЕШНОСТЯМИ МИКРОРЕЛЬЕФА

Д.Л. Головашкин1, М. Дюпарре2, В.С. Павельев1, В.А. Сойфер1

1Институт систем обработки изображений РАН,

2Институт прикладной оптики Фридрих-Шиллер Университета (г. Йена, Германия)

 PDF, 507 kB

Страницы: 131-133.

Язык статьи: Русский.

Citation:
Golovashkin DL, Duparre M, Pavelyev VS, Soifer VA.Simulation of IR beams transmission through a diamond diffractive lens with subwavelength technological errors of the microrelief. Computer Optics 2001; 21: 131-133.

Литература:

  1. Кононенко В.В., Конов В.И., Пименов С.М., Прохоров А.М., Павельев В.С., Сойфер В.А. Алмазная дифракционная оптика для мощных CO2-лазеров // Квантовая электроника. 1999. Т. 26, С. 9-10.
  2. V.V. Kononenko, V.I. Konov, S.M. Pimenov, A.M. Prokhorov, V.S. Pavelyev, V.A. Soifer CVD diamond transmissive diffractive optics for CO2 lasers // New Diamond Films and Frontier Carbon Technology, Japan. V. 10, № 2. 2000 (accepted for publication).
  3. V.S. Pavelyev, V.A. Soifer, V.V. Kononenko, V.I. Konov, S.M. Pimenov, A.M. Prokhorov, B. Luedge, M. Duparre Diamond focusators for far IR lasers // МЦНТИ. Компьютерная оптика. № 20. С. 71-75, 2000.
  4. Hiroyuki Ichikawa, Electromagnetic analysis of diffraction gratings by the finite-difference timedomain method // J. Opt. Soc. Am. 1998. V. 15, № 1. P. 152-157.
  5. Jean-Pierre Berenger, A perfectly matched layer for the absorption of electromagnetic waves // Journal of computational physics.1994. № 114. P 185-200.
  6. Никольский В.В., Никольская Т.И. Электродинамика и распространение радиоволн // М., Наука. 1989. 540 с.
  7. Борн М., Вольф Э. Основы оптики // Пер. с англ. М., Наука. 1973. 720 с. 8. Методы компьютерной оптики // Под ред. В.А. Сойфера. М., Физматлит, 2000. 688с.

© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20