(21) 24 * << * >> * Русский * English * Содержание * Все выпуски

КОНТРОЛЬ ИЗМЕНЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ В ЖИДКИХ ФОТОПОЛИМЕРИЗУЮЩИХСЯ КОМПОЗИЦИЯХ

А.В. Волков, Н.Л. Казанский, В.С. Соловьев

Институт систем обработки изображений РАН г. Самара

 PDF, 496 kB

Страницы: 117-120.

Язык статьи: Русский.

Аннотация:
Известен метод формирования структур с непрерывным профилем микрорельефа дифракционных оптических элементов (ДОЭ) на основе жидких фотополимеризующихся композиций (ЖФПК) [1, 2]. Для получения максимальной высоты микрорельефа при заданном контрасте фотошаблона необходимо обеспечить такую энергетическую экспозицию, при которой массовое отношение образованного при засветке полимера к исходному олигомеру (конверсия) максимально различалось бы в засвеченных и незасвеченных зонах [3]. В связи с тем, что показатель преломления полимера выше показателя преломления собственного олигомера [4], то показатель преломления будет выше там, где выше уровень конверсии. Следовательно, фиксируя разность коэффициентов преломления в засвеченных и незасвеченных зонах, можно предопределять высоту микрорельефа, получаемого в результате темнового роста.

Citation:
Volkov AV, Kazanskiy NL, Soloviev VS. Checking the refractive index change in liquid photopolymerizable compositions. Computer Optics 2001; 21: 117 - 120.

Литература:

  1. Соловьев В.С., Бойко Ю.Б. Получение элементов компьютерной оптики на жидких фотополимеризующихся композициях // Компьютерная оптика. В. 8. М., МЦНТИ. 1990. С. 74-76.
  2. Соловьев В.С. Исследование поведения слоя жидкой фотополимеризующейся композиции во время рельефообразования // Компьютерная оптика. М., МЦНТИ. 1992. В. 10-11. С. 145-149.
  3. Волков А.В., Казанский Н.Л., Соловьев В.С. Структура и динамика молекулярных систем // Структура и динамика молекулярных систем. Казань: «Унипресс», 1999. В. VI. С. 83-86.
  4. Y.B. Boiko, V.M. Granchak, I. Dilung, V.S. Solovjev, V.A. Soifer Relief holograms recording on liquid photopolymerizabel layers // Proceeding SPIE, January. 1990. V. 1238. Р. 253-257.
  5. Борн М., Вольф Э. Основы оптики // М., Наука, 1973. 720 с.

© 2009, IPSI RAS
Россия, 443001, Самара, ул. Молодогвардейская, 151; электронная почта: journal@computeroptics.ru; тел: +7 (846) 242-41-24 (ответственный секретарь), +7 (846) 332-56-22 (технический редактор), факс: +7 (846) 332-56-20